作者:标准资料网 时间:2024-05-05 03:36:02   浏览:9062   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Part4:Microwavediodesandtransistors
【原文标准名称】:半导体装置.分立装置.第4部分:微波二极管和晶体管
【标准号】:IEC60747-4-2007
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2007-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofIEC60747givesrequirementsforthefollowingcategoriesofdiscretedevices:–variablecapacitancediodesandsnap-offdiodes(fortuning,up-converterorharmonicmultiplication,switching,limiting,phasedshift,parametricamplification);–mixerdiodesanddetectordiodes;–avalanchediodes(fordirectharmonicgeneration,amplification);–gunndiodes(fordirectharmonicgeneration);–bipolartransistors(foramplification,oscillation);–field-effecttransistors(foramplification,oscillation).
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_30
【页数】:279P;A4
【正文语种】: